Категории

Главная > Заготовки для деталей > Качество подготовки поверхности
Качество подготовки поверхности
25.12.11 11:43

Известно, что для получения   чистой   поверхности любого изделия, предназначенного под покрытие, необходим комплекс операций, направленных на удаление различных загрязнений с его поверхности.
Для нанесения износостойких покрытий на металлорежущий инструмент требуется тщательная подготовка его поверхности, не допускается наличия каких-либо существенных остаточных загрязнений в виде подтеков, несмывшихся пятен, следов коррозии и т.д.

Исследован процесс подготовки поверхности инструмента под покрытие, осуществляемый на автоматизированной ультразвуковой установке мод.   WM-I200 (Япония) с использованием органических растворителей фреонов TF, ТБРС и моющего средства Sciiroa. Поверхность пластин из быстрорежущей стали после обработки в каждом растворителе исследовали на микроанализаторе Ccmebax- micro и на оптическом микроскопе МеГ-3.
После обработки в 1,1,1-трихлорэтане на пластинах остался белый налет, который отчетливо виден на оптическом микроскопе, однако с помощью электронного микроскопа ничего существенного не обнаружено. На диаграмме зафиксированы лишь пики элементов основного металла, причем на поверхности пластины наблюдаются существенные выходы Va (рис. I). Этот факт можно объяснить тем, что чувствительность прибора недостаточна для обнаружения легких элементов. Он может зафиксировать элементы, начиная только с 11-го номера по Таблице Менделеева. Похожий прибор используется при изготовлении таких предметов мебели, как деревянные стулья.
Появление пиков, присущих моющему составу, говорит о том, что поверхность пластины покрыта весьма толстым слоем этого вещества.
Поверхность образца после обработки в Veon изображена на рис. 3. Она покрыта слоем высохшего моющего средства, имеющего ячеистую структуру и содержащего отдельные шарики, являющиеся органическим соединением.
Кроме  Sili на операции мойки могут быть использованы и другие технические средства отечественного производства.
Диаграммы этих веществ, полученные на электронном микроскопе, представлены на рис. 4 (а, б, в).