Двойной микроскоп Линника позволяет измерять микронеровности высотой от 0,9 до 60 мк только на наружных плоских или цилиндрических поверхностях.
Прибор позволяет фотографировать наблюдаемую поверхность.
Микроинтерферометры Линника. Имеющиеся модели микро-интерферометра Линника служат для измерения неровностей от 0,1 до 6 мк и дают увеличение от 400 до 500К
Изгибы интерференционных полос соответствуют профилю поверхности в данном сечении.
С помощью окуляр-микрометра на испытуемой поверхности делают два отсчета: а и Ь (фиг. 29). Отсчет а выражает величину h неровности, отсчет Ъ — расстояние между двумя соседними интерференционными полосами.
Область применения приборов приведена в табл. 18.
Метод слепков применяют в тех случаях, когда неудобно снимать детали из цехов и направлять их в лабораторию.
Особенно удобно применять метод слепков при изготовлении деталей крупных и тяжелых или в тех случаях, когда надо определить качество труднодоступных поверхностей.
Хорошим материалом для получения точных слепков является целлулоид, растворяемый в химически чистом ацетоне. Для получения слепка кусок целлулоида 10X40X2 мм опускают на 2 мин. в ацетон, прикладывают к оцениваемой поверхности, просушивают. Время просушивания для слепков с чисто обработанной поверхностью 10 мин., для более грубых поверхностей 30 —50 мин. Слепок можно оценивать по чистоте поверхности на двойном микроскопе, микроинтерферометре, приборах Левина. Искажение профиля поверхности слепком после чистовой и получистовой обработки находится в пределах 2—8%.
Очень эффективным является способ разрезов под небольшим углом для определения микрогеометрии поверхности. Испытываемую поверхность покрывают слоем хрома толщиной 5—10 мк, образец закладывают в приспособление, в котором часть образца срезается под углом 1—2°. После этого срезанную плоскость травят и с границы перерезанного хрома и протравленного металла делают снимок. Этот фотоснимок представляет собой профилсграмму, у которой горизонтальным увеличением является увеличение при фотографировании, а вертикальным — горизонтальное увеличение, умноженное на увеличение, полученное от косого среза.
При угле а = 1° увеличение равно 60, при угле а = 2° равно 30. С помощью косого среза можно получить профилограмму с вертикальным увеличением до 8000 раз. Метод косых срезов настолько точен, что применяется для тарировки профилографов.