Профилометр В. М. Киселева предназначен для измерения в лабораторных и цеховых условиях микронеровностей в пределах от 14-го до 4-го класса чистоты. Профилометр автоматически показывает величину Нск в мк.
Принцип действия профилометра заключается в следующем. При перемещении датчика по проверяемой поверхности игла, жестко связанная с индуктивной катушкой, совершает колебания. При этом в обмотке последней возбуждается э. д. с, величина которой зависит от скорости колебания иглы.
Эта э. д. с. очень мала, она усиливается в несколько тысяч раз электронным усилителем и поступает на рамку гальванометра. Для того чтобы прибор давал усредненные показания, пропорциональные не скорости, а перемещению иглы, э. д. с. интегрируется по времени специальным контуром, имеющимся в схеме усилителя. Благодаря этому стрелка прибора показывает среднее квадратическое отклонение.
При измерении следует брать от 5 до 10 отсчетов на разных участках проверяемой поверхности в зависимости от ее величины и от однородности ее обработки и определять среднее арифметическое значение Нск.
Профилометром Киселева можно измерять микрогеометрию плоских, а также наружных и внутренних цилиндрических поверхностей. Подключив к прибору осциллограф, можно снимать профилограммы поверхностей.
Двойной микроскоп Линийка. Прибор предназначен для измерения чистоты поверхностей 3—9-го классов чистоты. Действие микроскопа основано на принципе светового сечения (фиг. 27). Прибор (фиг. 28) состоит из двух микроскопов: микроскоп А служит для освещения исследуемой поверхности (проектирующий микроскоп), микроскоп В — для наблюдения и измерения получаемого очертания кривой профиля (микроскоп наблюдения). Оси тубусов микроскопов наклонены под углом 45° к исследуемой поверхности. Точка пересечения осей совпадает с предметными точками объективов обоих микроскопов.
Микроскоп А имеет в плоскости изображения его объектива 3 щель 2, освещаемую источником света 1 и расположенную перпендикулярно плоскости осей микроскопов. Объектив 3 дает уменьшенное изображение аг щели 2 на проверяемой плоскости Р в виде узкой светящейся линии, перпендикулярной к плоскости чертежа.
При совершенно гладкой поверхности Р объектив 5 микроскопа В даст в плоскости сетки окуляра 4 изображение а2
этой светящейся линии, а также изображение близлежащего узкого участка проверяемой поверхности.
Высота неровностей измеряется при помощи окулярного микрометра, установленного на микроскопе В.